
塞貝克系數(shù)是評(píng)估材料熱電性能的關(guān)鍵指標(biāo),華測(cè)儀器HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀是為材料研究與工業(yè)質(zhì)控打造,提供一站式準(zhǔn)確測(cè)試方案,助力科研與產(chǎn)業(yè)提質(zhì)。
儀器采用靜態(tài)直流法測(cè)塞貝克系數(shù)、四端法測(cè)電阻率,一鍵同步獲取兩大參數(shù),規(guī)避分步測(cè)試誤差、縮短周期;四端法可減少接觸電阻干擾,確保數(shù)據(jù)可靠。測(cè)試精度突出:塞貝克系數(shù)準(zhǔn)確度±7%、重復(fù)性±3%;電阻率準(zhǔn)確度±5%~8%,覆蓋絕緣體至導(dǎo)體全品類材料,輸出穩(wěn)定準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。寬溫區(qū)(室溫至1100℃)搭配多氣氛模擬(惰性、氧化、還原、真空),還原真實(shí)工況,滿足熱電材料、高溫合金等多種測(cè)試需求。樣品兼容性強(qiáng),適配圓柱、棱柱、圓盤等試樣,無需額外工裝;可調(diào)探頭搭配三明治夾持結(jié)構(gòu),接觸穩(wěn)定,減少誤差、優(yōu)化效率。配置0~1A穩(wěn)定電源,支持72小時(shí)長(zhǎng)周期高溫實(shí)驗(yàn);搭載K/S/C型熱電偶,溫控準(zhǔn)確,確保測(cè)試結(jié)果重復(fù)可靠。
儀器覆蓋實(shí)驗(yàn)室科研與工業(yè)質(zhì)控場(chǎng)景,為熱電轉(zhuǎn)換、高溫材料評(píng)估等領(lǐng)域提供支撐,助力推進(jìn)科研、優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量。
華測(cè)儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺(tái)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)到整體實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè)的全過程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,華測(cè)儀器可提供從方案設(shè)計(jì)到交付驗(yàn)收的完整服務(wù)。

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