半導體與材料測試中，精度與效率缺一不可。華測儀器HCCS-4探針臺以高準度為關(guān)鍵，整合實用功能，適配多元化測試需求，是為實驗室與生產(chǎn)線設(shè)計的測試裝備。

該設(shè)備定位準確，X-Y移動平臺行程4×4英寸，具備1μm移動精度，采用準確傳動結(jié)構(gòu)，可準確定位測試點位，避免數(shù)據(jù)失真，保障測試數(shù)據(jù)可信度。樣品臺支持360°旋轉(zhuǎn)及準確微調(diào)，可實現(xiàn)多角度重復測試，定位準確、數(shù)據(jù)波動小，保障數(shù)據(jù)穩(wěn)定性與可重復性，降低實驗誤差、優(yōu)化測試效率。設(shè)備具有溫控能力，溫度范圍覆蓋室溫至400℃，可模擬材料實際服役溫度；0.1℃控溫精度，能穩(wěn)定維持溫度恒定，適配高溫等材料的電學性能測試。測試功能多元化，支持高溫I-V、擊穿、介電溫譜等多種項目，可評估材料與器件高溫電學特性，為研發(fā)優(yōu)化、性能歸因提供依據(jù)，適配多領(lǐng)域需求。U型平臺可搭載2~4個探針座，支持直流、射頻兼容，適配多種測試儀表，無需額外轉(zhuǎn)接設(shè)備；探針座兼容多種線材，可滿足不同精度測試需求。采用中心吸附孔+多圈吸附環(huán)設(shè)計，可牢固固定薄片、薄膜、晶圓等多種樣品；配備電學單獨樣品臺，拓寬樣品適配范圍，可滿足特殊樣品測試需求。搭載高清體式顯微鏡，成像清晰，便于快速找點對針；支持可選CCD成像系統(tǒng)，實現(xiàn)測試可視化記錄，兼顧精度與效率，優(yōu)化測試流程順暢性。

華測儀器HCCS-4探針臺憑借高準度、高適配性，契合半導體與材料測試需求，為技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)升級提供有力測試支撐。華測儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺測試設(shè)備供應到整體實驗室規(guī)劃建設(shè)的全過程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設(shè)計到交付驗收的完整服務(wù)。