離子遷移失效具備強(qiáng)隱蔽性，前期無(wú)明顯外觀變化，僅表現(xiàn)為絕緣電阻緩慢劣化，故障爆發(fā)無(wú)規(guī)律，電子組件長(zhǎng)期可靠性難以量化管控。華測(cè)儀器絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)采用集成架構(gòu)：恒溫恒濕環(huán)境倉(cāng) + 多通道高精度電阻采集主機(jī)；工況準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)：模擬 85℃/85% RH 濕熱疊加直流偏壓等復(fù)雜服役環(huán)境；全過(guò)程動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)：長(zhǎng)期持續(xù)加壓，實(shí)時(shí)存儲(chǔ)絕緣電阻變化數(shù)據(jù)，追溯失效演變過(guò)程。

高性能測(cè)試配置

通道能力：標(biāo)準(zhǔn) 128 單獨(dú)通道，可拓展 960 通道并行測(cè)試

測(cè)量量程：10?~101?Ω 全區(qū)間覆蓋，高低絕緣均可準(zhǔn)確檢測(cè)

電壓定制：100V–1500V 直流測(cè)試電壓，適配多行業(yè)測(cè)試規(guī)范

耐久測(cè)試：支持1~1000小時(shí)不間斷連續(xù)老化

高速采集：2分鐘完成128 通道完整掃描，批量測(cè)試效率得到優(yōu)化

多方面防護(hù)保障

搭載過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)溫三重硬件保護(hù)，高壓測(cè)試全程逐通道實(shí)時(shí)監(jiān)控；發(fā)生短路、過(guò)溫、漏電異常時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)切斷高壓，留存故障溯源數(shù)據(jù)，保障長(zhǎng)時(shí)間無(wú)人值守老化測(cè)試過(guò)程穩(wěn)定。

可完成絕緣材料、PCB 電路板、功率器件、封裝組件離子遷移可靠性驗(yàn)證，縮短研發(fā)迭代周期，減少隱性失效，穩(wěn)定產(chǎn)品出廠可靠性。