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低頻高壓介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器HC-Q37a低頻高壓介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀用來測(cè)量高壓器件（如絕緣材料）的介電常數(shù)及介電損耗功能，以鎖相放大器原理運(yùn)作，能夠分析容性和感性負(fù)載，具有精度和穩(wěn)定性。

產(chǎn)品型號(hào)：HC-Q37a
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2026-03-16
訪問量：169

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絕緣材料測(cè)試儀器

表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái) 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 電熱老化罐真空電熱老化測(cè)試系統(tǒng) 高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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詳細(xì)介紹

品牌	華測(cè)儀器	產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

HC-Q37a低頻高壓介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

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HC-Q37a低頻高壓介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論，集介電響應(yīng)測(cè)試與絕緣狀態(tài)評(píng)估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測(cè)試頻率范圍為1mHz~10kHz，且在低頻范圍內(nèi)可選測(cè)量方式，用戶可以手動(dòng)和自動(dòng)模式之間進(jìn)行選擇，可選擇手動(dòng)模式測(cè)量，而自動(dòng)模式則支持自動(dòng)化試驗(yàn)序列。

產(chǎn)品參數(shù)

耗散因數(shù)(tanδ)：0 ~ 100；顯示分辨率：1x10^-7

功率因數(shù)(cosφ)：0 ~ 1；顯示分辨率：1x10^-6

電容：≤10nF(1kHz)

≤1uF(50Hz)

電感：≤ 1 kH

測(cè)試電壓：2000V

測(cè)試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA

測(cè)試電阻：上限100TΩ

測(cè)試頻率：1mHz~10kHz

運(yùn)行溫度：-10~50℃

存儲(chǔ)溫度：-20~50℃

濕度：5~95％相對(duì)濕度，不結(jié)露

產(chǎn)品特性

1.準(zhǔn)確度：電容 0.02%, 介損 1×10^-6

2.附加信號(hào)分析功能：圖譜分析，數(shù)字示波器和數(shù)據(jù)記錄功能均已被集成

3.是一款針對(duì)此類試驗(yàn)的優(yōu)化產(chǎn)品

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