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簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器Huace DT-L3多通道導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可在低高溫交替的溫度循環(huán)環(huán)境中，采用4端子測(cè)試法，對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體連接部位開(kāi)展多通道高準(zhǔn)度微小電阻連續(xù)監(jiān)測(cè)，以此評(píng)估電子裝配工藝的規(guī)范性及材料本身的連接可靠性。
產(chǎn)品型號(hào)：Huace DT-L3廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2026-03-18訪 問(wèn) 量：298產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
Huace DT-L3多通道導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)
價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書(shū)、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
Huace DT-L3多通道導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，配套操作軟件可實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程的自動(dòng)化運(yùn)行，實(shí)時(shí)采集并記錄各項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)圖表直觀呈現(xiàn)微小電阻的動(dòng)態(tài)變化趨勢(shì)及試驗(yàn)箱的溫度波動(dòng)情況，同時(shí)支持通過(guò)LAN接口進(jìn)行遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)處理，助力用戶完成連接可靠性的在線評(píng)估與分析。
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.配備自主開(kāi)發(fā)的多光束掃描方式及符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試儀
2.直流測(cè)量抗干擾能力強(qiáng)
3.能夠通過(guò)2種方法判定故障
4.可通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)定，可在測(cè)定過(guò)程中編輯、瀏覽數(shù)據(jù)
5.通過(guò)與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，大幅度增加試驗(yàn)效率
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)試通道：128通道（可定制至960通道）
測(cè)試量程：1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、100kΩ、1MΩ以及AUTO
分辨率：100μΩ
測(cè)量范圍：1×10-3-1×106Ω
環(huán)境箱：適配多種型號(hào)
應(yīng)用領(lǐng)域
1. PCB 與封裝焊接類
印刷電路板通孔導(dǎo)通評(píng)估
2. 元器件可靠性類
連接器接觸電阻評(píng)估
3. 柔性線路與特殊材料類
導(dǎo)電膠粘劑、異方性導(dǎo)電膜 (ACF) 接合性評(píng)估
4. 通用連接結(jié)構(gòu)類
各種金屬接合部分評(píng)估
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