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電容器溫度特性測試系統(tǒng)

簡要描述：華測儀器HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號：HCCT-40H
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2026-03-26
訪問量：134

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應(yīng)用領(lǐng)域	能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，系統(tǒng)通過準確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

產(chǎn)品參數(shù)

測量項目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

測試方法：溫度特性評價試驗

恒定運行檢測

頻率特性評價試驗

通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量

測量方法：交流四端對測量

測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

電容量(C)：50 pF ~ 5 mF

損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

直流偏壓：0 ~ ±40V

溫度測量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成

頻率步長：201步（范圍可定制）

補償：短時補償，開放補償

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