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HCLD-2漏電起痕試驗(yàn)儀在電工電子絕緣材料檢測中的應(yīng)用發(fā)布時(shí)間：2026-07-03

華測儀器HCLD-2低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是一款為固體絕緣材料電學(xué)性能檢測研發(fā)的試驗(yàn)設(shè)備，用于模擬絕緣材料在潮濕、污穢、電場共存的復(fù)雜工況下的表面漏電、起痕、擊穿失效過程，準(zhǔn)確評(píng)價(jià)多種固體絕緣材料的耐漏電起痕性能，可測定材料的相比電痕化指數(shù)（CTI）與耐電痕化指數(shù)（PTI），是電工材...

詳情

2020
9-1

抗電強(qiáng)度的測量與應(yīng)用
抗電強(qiáng)度是絕緣材料的一個(gè)重要指標(biāo)，因其數(shù)值受多種因素影響，為便于比較，必須在特定的條件下進(jìn)行。GB/T1408.1-1999規(guī)定了固體電工材料工頻擊穿電壓、擊穿場強(qiáng)和耐電壓的實(shí)驗(yàn)方法。對(duì)試樣的尺寸、電極形狀、加壓方式等都作了規(guī)定，其中擊穿電...
2020
8-31

鐵電材料綜合測試系統(tǒng)的介紹及優(yōu)勢
產(chǎn)品介紹：鐵電材料綜合測試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場介電、熱釋電系數(shù)、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測試；配合高低溫測試環(huán)境同時(shí)可以測量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)。該...
2020
8-31

化學(xué)擊穿的兩種主要機(jī)理
長期運(yùn)行在高溫、潮濕、高電壓或腐蝕性氣體環(huán)境下的絕緣材料往往會(huì)發(fā)生化學(xué)擊穿。化學(xué)擊穿和材料內(nèi)部的電解、腐蝕、氧化、還原、氣孔中氣體電離等一系列不可逆變化有很大的關(guān)系，并且需要相當(dāng)長時(shí)間，材料被“老化”，逐漸喪失絕緣，后導(dǎo)致被擊穿而破壞。化學(xué)...
2020
8-31

影響抗電強(qiáng)度的因素
材料的抗電強(qiáng)度主要用材料的耐電強(qiáng)度來表示，其數(shù)值等于相應(yīng)的擊穿場強(qiáng)E穿。它除取決于材料的組成與結(jié)構(gòu)外，主要受外界環(huán)境對(duì)E穿的影響。首先是溫度的影響，溫度對(duì)電擊穿影響不大，因?yàn)樵陔姄舸┻^程中，電子的運(yùn)動(dòng)速度、粒子的電離能力等均與溫度無關(guān)，因此...
2020
8-31

高頻介電常數(shù)測試儀的介紹和用途
高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感器的電感量和分布電容量、電容器的電容量和損耗角正切值、電工材料的高頻介質(zhì)損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻、傳輸線的特性阻抗等。它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生...
2020
8-28

什么是熱擊穿？
絕緣材料在電場下工作時(shí)由于各種形式的損耗，部分電能轉(zhuǎn)變成熱能，使介質(zhì)被加熱。若外加電壓足夠高，將出現(xiàn)器件內(nèi)部產(chǎn)生的熱量大于器件散發(fā)出去的熱量的不平衡狀態(tài)，熱量就在器件內(nèi)部積聚，使器件溫度升高。升溫的結(jié)果又進(jìn)一步增大損耗，使發(fā)熱量進(jìn)一步增多。...

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