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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCRD-300L寬幅隔膜絕緣弱點(diǎn)檢測(cè)儀

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更新時(shí)間：2026-06-10

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華測(cè)儀器Huace-300絕緣材料表面體積電阻測(cè)定儀采用低溫漂系數(shù)極低的電阻，既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。
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HCLD-2CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2026-05-09

型號(hào)：HCLD-2

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華測(cè)儀器HCLD-2 CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測(cè)試系統(tǒng)用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。
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